光模塊導(dǎo)致輻射發(fā)射超標(biāo) |
XXX 產(chǎn)品提供 24 個(gè) 10/100Mbps 以太網(wǎng)電口,同時(shí)設(shè)有兩個(gè)擴(kuò)展槽,在實(shí)際組網(wǎng)中根據(jù)需要配置不同的上行扣板。 在EMC 實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行 RE 測(cè)試項(xiàng)目中, 上行接口配置為長(zhǎng)距離千兆光口接口板(LC 接口) 。 這時(shí)所有 24FE 電口接電纜自環(huán),上行接口 LC 光接口接光纖自環(huán)。 測(cè)試結(jié)果發(fā)現(xiàn)高頻段有幾個(gè)頻點(diǎn)(625MHZ,687.5MHZ,812.5MHZ,875MHZ)超標(biāo),不能通過(guò) CLASS B,測(cè)試結(jié)果如下:
最初測(cè)試結(jié)果 對(duì)于系統(tǒng)設(shè)備的RE 問(wèn)題, 從外部來(lái)看, 一般不外乎電源, 信號(hào)電纜, 結(jié)構(gòu)縫隙泄漏幾方面原因。但由于是高頻干擾,一般不可能是電源問(wèn)題,而只可能是電纜和結(jié)構(gòu)問(wèn)題,因此基于此思路一般我們進(jìn)行定位。 首先我們懷疑是24 根百兆網(wǎng)線(xiàn)帶來(lái)的輻射, 但把網(wǎng)線(xiàn)拔去后進(jìn)行測(cè)試, 發(fā)現(xiàn)超標(biāo)頻點(diǎn)只是稍有一點(diǎn)下降,但不明顯。 這說(shuō)明輻射的主要途徑不是通過(guò)百兆網(wǎng)線(xiàn)電纜。 接著我們用近場(chǎng)探頭對(duì)設(shè)備進(jìn)行掃描,發(fā)現(xiàn)在上行光扣板兩個(gè)側(cè)邊輻射很大,而且都是超標(biāo)頻點(diǎn)。于是我們懷疑扣板拉手條與主機(jī)框接觸不好,打開(kāi)看,扣板拉手條上下各有一條簧片,與機(jī)框結(jié)構(gòu)接觸很好,只是兩旁沒(méi)有簧片,但由于有螺釘連接縫隙長(zhǎng)度不會(huì)超過(guò) 1.5cm。具體如下圖:
正面看過(guò)去實(shí)物圖
從拉手條背面看示意圖
我們用導(dǎo)電銅箔處理了拉手條兩邊,處理后再用近場(chǎng)探頭掃描,果然兩邊輻射沒(méi)有了。這說(shuō)明在高頻時(shí),小于3cm 的縫隙也會(huì)引起輻射。 本以為問(wèn)題已經(jīng)解決,但是我們用暗室進(jìn)行掃描測(cè)試時(shí),發(fā)現(xiàn)這些頻點(diǎn)還是超標(biāo),幅度還是沒(méi)有明顯的下降。這時(shí)設(shè)備上電纜只有光纖和電源。只好再次對(duì)設(shè)備進(jìn)行地毯式掃描,偶然中發(fā)現(xiàn)光纖出口有輻射,把探頭靠近接口處光纖上,輻射很大。 仔細(xì)看了光纖出口,拉手條出口不過(guò)是一個(gè)1cm×1cm 見(jiàn)方的小孔, 而且周?chē)€有屏蔽殼。 光纖使用的是 LC 接頭,公司很多產(chǎn)品應(yīng)用。具體如下圖:
LC 光纖和光模塊面板接口 原來(lái)我們一直認(rèn)為光纖處出口小,光纖不會(huì)帶出輻射,這是怎么回事?后來(lái)發(fā)現(xiàn)光纖接頭里面有一根金屬加強(qiáng)筋,約3cm 左右。而光模塊接口的 TX 發(fā)射端也是金屬, 雖然光纖插入時(shí)兩個(gè)金屬之間沒(méi)有直接接觸,但由于距離比較近,會(huì)有高頻干擾耦合到光纖接頭金屬上面,而這時(shí)光纖接頭金屬就相當(dāng)于一根單極天線(xiàn), 對(duì)外把干擾頻點(diǎn)輻射出來(lái)。看上圖左邊一根光纖前面帶有衰減器,里面也有金屬,但比較短。如把這根光纖插入 TX 端進(jìn)行測(cè)試, 輻射幅度就會(huì)大大降低。 這從另外一面也證實(shí)了上述想法。 從以上定位分析說(shuō)明系統(tǒng)主要是通過(guò)光纖接頭里面的金屬向外輻射的。 輻射途徑找到,怎么解決問(wèn)題? 光纖是公司許多產(chǎn)品都使用的,應(yīng)該是國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),不可能更改。那么只能是含有光模塊的上行扣板本身輻射很大。上述超標(biāo)頻點(diǎn)全部是62.5MHZ 的倍頻,而 62.5MHZ 這個(gè)頻點(diǎn)只有上行扣板光模塊部分電路才有,系統(tǒng)其他部分中并無(wú)此頻點(diǎn)。看了上行接口單板電路和 PCB 設(shè)計(jì),沒(méi)有發(fā)現(xiàn)明顯的設(shè)計(jì)不妥之處,因此我們懷疑是光模塊器件問(wèn)題,是否是其本身輻射比較大? 我們了解到此光模塊為國(guó)內(nèi)F 廠(chǎng)家產(chǎn)品, 為公司第一次使用。以前我們產(chǎn)品一般采用國(guó)際上 A公司產(chǎn)品,只是由于降成本考慮,想用 F 公司替代 A 公司產(chǎn)品。我們建議聯(lián)系 F 廠(chǎng)家了解光模塊 EMI 指標(biāo),同時(shí)共同解決 RE 問(wèn)題。另外建議開(kāi)發(fā)人員更換為 A 公司產(chǎn)品進(jìn)行驗(yàn)證測(cè)試。 經(jīng)過(guò)對(duì)更換為A 廠(chǎng)家光模塊的設(shè)備系統(tǒng)測(cè)試,可以通過(guò) CLASS B,進(jìn)一步確信了 F 公司光模塊問(wèn)題,后來(lái) F 公司對(duì)光模塊進(jìn)行改進(jìn),再次進(jìn)行測(cè)試, 輻射幅度有大幅度下降, 測(cè)試結(jié)果如下:
公司光模塊改進(jìn)后測(cè)試結(jié)果 這充分說(shuō)明系統(tǒng)輻射的源頭是光模塊本身設(shè)計(jì)不當(dāng),其RE 指標(biāo)達(dá)不到系統(tǒng)要求。
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| 發(fā)布時(shí)間:2018.05.25 來(lái)源:電源適配器廠(chǎng)家 |
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