輻射干擾結(jié)構(gòu)的常見原因

由于結(jié)構(gòu)問題導(dǎo)致RE 測試通不過是實驗室最常見的現(xiàn)象。 這是因為當(dāng)產(chǎn)品形成以后各個設(shè)計環(huán)節(jié)都基本上成型了，通過打開機(jī)殼進(jìn)行定位非常麻煩；結(jié)構(gòu)的屏效直接與測試數(shù)據(jù)相關(guān)，在測試過程中只要懷疑哪個地方有泄漏，可以直接用近場掃描或者貼銅箔等方法確認(rèn)，并且只要稍加處理就會起到立竿見影的效果。 總的說來主要是兩個方面的問題：第一，由于開孔、開縫和屏蔽層穿透引起的屏蔽效能下降；第二，由于搭接引起的問題。第三， 結(jié)構(gòu)的諧振。

開孔、開縫和屏蔽層穿透引起的屏效下降。在我們的測試過程中，因為結(jié)構(gòu)上面通風(fēng)、散熱而開的孔、縫導(dǎo)致的輻射發(fā)射超標(biāo)現(xiàn)象還沒有出現(xiàn)。有時結(jié)構(gòu)上面會開一些孔、縫，方便對外出線或者安裝固定螺釘?shù)?。這種情況下很容易出現(xiàn)問題。因為雖然內(nèi)部干擾不會直接通過窗體向外泄漏，但是可以耦合到穿過窗體的金屬上，再通過金屬對外輻射。要避免這種情況出現(xiàn)，必須將通過縫隙的金屬與結(jié)構(gòu)搭接緊密。譬如ONU F01D 系列產(chǎn)品的用戶線，屏蔽層在出機(jī)柜時候一定要和出孔周圍的金屬網(wǎng)緊密搭接。

搭接問題引起的問題。由于結(jié)構(gòu)件之間搭接引起的輻射發(fā)射超標(biāo)問題是EMC 實驗室中最常見的問題。 這可以包含為下面一些現(xiàn)象：

1 連接器和拉手條之間的搭接不良。

A 連接器和拉手條之間尺寸差距太大。

B 連接器和拉手條之間采用簧片搭接，但是簧片和拉手條接觸不良。

C 連接器和拉手條之間通過導(dǎo)電橡膠圈搭接。 沒有安裝橡膠圈或者連接器的橡膠圈安裝槽設(shè)計不合理（因為橡膠圈橫截面是圓形，所以槽位也應(yīng)該是圓形），甚至由于尺寸不合理橡膠圈無法安裝。

D 拉手條表面有涂覆使得連接器的固定螺釘無法和拉手條形成電氣搭接。 特別是在同軸連接器出口，拉手條上必須要為連接器預(yù)留出固定位置，形成電氣搭接。

E 連接器和拉手條之間通過面－面搭接，但是搭接不緊密或者沒有安裝固定螺釘。

2 拉手條與拉手條之間接觸不良。

拉手條由于插拔次數(shù)過多，拉手條上的簧片彈性降低或者已經(jīng)氧化，或者導(dǎo)電布導(dǎo)電性能降低。目前我們公司對于拉手條一般采用導(dǎo)電布搭接方式。所謂導(dǎo)電布就是在纖維材料上面襯墊上金屬顆粒。受插拔次數(shù)影響，這些顆粒會脫落，測試時候要考慮導(dǎo)電布對測試的影響。

3 拉手條與機(jī)柜之間的搭接不良。

因為拉手條只有一側(cè)安裝導(dǎo)電布或者簧片，所以機(jī)柜插箱的兩側(cè)必須有一側(cè)是平面，另一側(cè)安裝導(dǎo)電布或者簧片。測試中發(fā)現(xiàn)有的產(chǎn)品插箱上的導(dǎo)電布僅僅是簡單的貼在側(cè)面，容易脫落。

4 風(fēng)扇盒、 電源盒、防塵網(wǎng)同機(jī)柜搭接不良。

結(jié)構(gòu)件和機(jī)柜主體之間縫隙也往往是造成輻射發(fā)射超標(biāo)的原因。

5 機(jī)箱各個部分之間搭接不良。

由于機(jī)箱箱是由各個面組成，為了維修和安裝方便，通常可以拆卸，分成上蓋和主體或者后蓋和主體。上蓋和主體之間的搭接是結(jié)構(gòu)設(shè)計中的難點(diǎn)和重點(diǎn)。我們公司常見的搭接方式是凸包、扣片、加簧片、加導(dǎo)電布等方式。由于要降低成本，我們采用的材料的彈性較差，所以無論是凸包還是扣片，都往往效果并不是很理想。為了拆卸的方便和外觀的美觀，上殼和主體之間的螺釘也很有講究：過多影響美觀和安裝，太少影響屏蔽效果。并且這些縫隙往往很長，對螺釘孔的公差要求必須嚴(yán)格，否則會出現(xiàn)翹曲。