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晶體管Q1的關(guān)斷損耗

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晶體管Q1的關(guān)斷損耗

按照上面所說(shuō)的方法,盡管波形已經(jīng)反向,在關(guān)斷期間,C1和品體管Q1上都有類似的平均電流與電壓。在關(guān)斷時(shí)間t1-t2內(nèi),晶體管的功耗與在關(guān)斷結(jié)束時(shí)刻t存儲(chǔ)在C比電不大上的能量相等因此:

 晶體管Q1的關(guān)斷損耗

式中,PQ1(off)=關(guān)斷期間在Q1的功耗,單位為mW;

C1=緩沖網(wǎng)絡(luò)電容,單位為μF;

Vceo=晶體管Vceo。額定值,70%Vceo=是Ic=0時(shí)選擇的最大電壓值;

?=頻率,單位為kHz。

 

緩沖網(wǎng)絡(luò)的電阻值

緩沖網(wǎng)絡(luò)中放電電阻R1被用來(lái)在已定義的最小導(dǎo)通期間內(nèi)使緩沖網(wǎng)絡(luò)電容C1放電最小的導(dǎo)通時(shí)間由在最大輸入電壓以及最大工作頻率條件下所定義的最小負(fù)載決定。

CR時(shí)間常數(shù)應(yīng)該小于最小導(dǎo)通時(shí)間的50%,保證C1能夠在下一個(gè)關(guān)斷時(shí)間前進(jìn)行有效的放電。因此

 晶體管Q1的關(guān)斷損耗

緩沖網(wǎng)絡(luò)中電阻的功耗

每個(gè)周期內(nèi),在緩沖網(wǎng)絡(luò)中的電阻功耗等于關(guān)斷結(jié)束時(shí)存儲(chǔ)在電容C1的能量,而C1上的電壓與變換器電路的類型有關(guān)。根據(jù)全部能量變換觀點(diǎn),C1上的電壓將等于充電器電壓Vcc,因此在下個(gè)導(dǎo)通期間到來(lái)之前,所有的反向電壓都會(huì)降為零值。對(duì)于連續(xù)工作方式,C1上的電壓就等于充電器電壓與變壓器副邊反射到原邊的電壓之和。在C1放電前的電壓是Vc,則R1的功耗PR用以下公式計(jì)算:

 晶體管Q1的關(guān)斷損耗

密勒電流效應(yīng)

在測(cè)量關(guān)斷電流時(shí),設(shè)計(jì)者應(yīng)考慮會(huì)出現(xiàn)不可避免的密勒效應(yīng),密勒電流將在關(guān)斷沿流過(guò)集電極電容。

在討論高壓晶體管工作的過(guò)程中密勒效應(yīng)經(jīng)常被忽略。即使Q完全關(guān)斷,密勒電流還是會(huì)引起明顯的集電極電流。它的幅值與集電極電壓的變化率(dVc/dt)以及集電極基極間的耗盡電容有關(guān)。此外,如果在開關(guān)晶體管Q1上裝有一個(gè)散熱器,那么在Q1集電極與公共地線之間將會(huì)有一個(gè)相當(dāng)大的電容存在,這給集電極電流提供了另一條通路這不應(yīng)與密勒電流本身相混淆,它的幅值一般比密勒電流大幾倍。

在整個(gè)關(guān)斷期間,這些耦合電容將產(chǎn)生明顯的集電極電流,測(cè)量的集電極電流是平頂波形。所以,在集電極電壓上升到V期間,集電極電流決不會(huì)等于零。在圖1。18。2c中顯示為電流的平頂波形。盡管這種影響不可避免,但在開關(guān)晶體管已公布的二次擊穿特性中通常被忽略掉。最大集電極dVc/dt值有時(shí)要用到,通過(guò)選擇合適的C1值便可以得到滿意的dVc/dt值。當(dāng)使用功率MOSFET開關(guān)時(shí),必須要滿足最大dVc/dt值以阻止晶體管寄生振蕩。因此在大多數(shù)高壓功率MOSFET應(yīng)用中仍然要用到緩沖網(wǎng)絡(luò)。


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| 發(fā)布時(shí)間:2018.09.14    來(lái)源:電源適配器
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